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本申请公开了一种采样电路。该采样电路应用在第一芯片上，第一芯片与至少一第二芯片三维集成在一起，其中，采样电路包括：状态机模块，用于发送初始采样信号；至少一延迟模块，分别连接状态机模块，其中，每个延迟模块分别被配置为接收初始采样信号，并对初始采样信号进行延迟匹配处理生成相应的延迟采样信号；至少一采样模块，分别连接对应的延迟模块，并接收对应的第二芯片的应答数据信号，以利用延迟采样信号对应答数据信号进行采样。本申请还公开了自测试电路以及芯片。本申请提高了MBIST自测试电路的自适应性能，减少了各种因素
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116879725 A
(43)申请公布日 2023.10.13
(21)申请号 202311144485.7
(22)申请日 2023.09.06
(71)申请人 西安紫光国芯半导
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