一种体积型痕量仪校准装置及其校准方法.pdfVIP

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2023-10-14 发布于四川
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一种体积型痕量仪校准装置及其校准方法.pdf

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本发明涉及测量设备技术领域，具体涉及一种体积型痕量仪校准装置及其校准方法，包括装置本体和控制系统，装置本体内设置有校准腔，校准腔内通过支撑架安装有轨道轴，轨道轴上滑动安装有超微量移液器，轨道轴的下方依次安装有质量比较器、介质瓶、废液瓶和被测痕量仪；超微量移液器、质量比较器、被测痕量仪均与控制系统通讯相连。解决现有技术中，由于体积型痕量仪精度过高，传统体积校准装置无法对其校准的问题。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116878620 A (43)申请公布日 2023.10.13 (21)申请号 202311151215.9 (22)申请日 2023.09.07 (71)申请人中国测试技术研究院地址 610