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绝缘层修饰对并五苯有机薄膜晶体管电学性能改善机制的研究的中期报告
该研究旨在研究绝缘层修饰对并五苯有机薄膜晶体管电学性能改善的机制。本中期报告主要包括以下几个方面的内容：
1. 实验设计与数据采集
本研究采用了两个不同的绝缘材料（PVP和PMMA）来修饰并五苯有机薄膜晶体管，并对比了修饰前后的电学性能。实验中使用了表面形貌分析、电学性质测试、荧光光谱等手段对样品进行了表征和分析。
2. 实验结果与分析
通过表面形貌分析和荧光光谱分析，我们发现，使用PVP绝缘层修饰后，并五苯有机薄膜晶体管的表面更加平整，荧光强度也有所提高；而使用PMMA则没有这样的改善效果。同时，对电学性质测试的结果分析发现，使用PVP修饰的样品的电性能有所提高，而使用PMMA则没有明显的改善。
3. 改善机制的初步探讨
基于以上的实验结果，我们初步探讨了绝缘层修饰对并五苯有机薄膜晶体管电学性能改善的机制。我们认为，PVP绝缘层修饰后可以在表面形成更加均匀的介电层，从而减少漏电流，提高电性能。而使用PMMA则没有这样的改善效果，可能与其在表面形成的较为不均匀的介电层有关。
总之，该中期报告初步研究了绝缘层修饰对并五苯有机薄膜晶体管电学性能改善的机制，为后续研究提供了一定的理论基础。需要进一步深入探究不同绝缘材料对电学性能改善的具体机制。
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