脱机测试方法及其装置、电子设备、存储介质.pdfVIP

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2023-11-04 发布于四川
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脱机测试方法及其装置、电子设备、存储介质.pdf

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本发明实施例提供了一种脱机测试方法及其装置、电子设备、存储介质。方法包括：响应于测试开关的闭合，从预先配置的测试任务的测试计划中确定测试用例；自动执行测试用例，对eMMC芯片进行测试；保存每次测试过程中生成的日志信息，日志信息用于记录测试用例的测试状态；解析日志信息，获取测试用例的测试状态；根据测试状态和预设映射关系表，生成提示信息；其中，预设映射关系表用于表示测试状态与提示信息之间的对应关系；根据提示信息控制提示显示模块工作。本发明实施例能够及时且直观地获知测试状态，且降低测试的硬件成本，能够

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116991640 A (43)申请公布日 2023.11.03 (21)申请号 202310746332.3 (22)申请日 2023.06.21 (71)申请人深圳市晶存科技有限公司地址 5