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应用于混合集号集成电路BIST的模拟信号发生器的中期报告 报告概述： 本报告旨在介绍混合集号集成电路BIST中的模拟信号发生器的中期研究进展。报告包括对该领域的背景介绍、相关研究和进展情况的归纳总结，并对所做的研究工作及预期的进一步研究方向进行了详细描述。 背景介绍： 混合集号集成电路BIST是一种将集成电路与数字测试技术相结合的测试方法，其中包括数字信号发生器、数字信号分析器和模拟信号发生器。针对模拟信号发生器的研究，是解决高速数字系统集成电路的测试和可靠性问题的关键。 相关研究和进展情况： 目前，研究者们主要通过两种方式来实现模拟信号发生器：采用数字信号处理器来模拟模拟信号和使用基于数字模块加混频技术来生成模拟信号。其中前者的核心是通过数字信号处理器的计算能力来实现模拟信号的生成和控制，但需要更大的计算量和更快的采样率；后者使用数字信号产生器，通过数字模拟器和混频器来产生信号，更好地保证了稳定性和可靠性。 所做的研究工作及预期的进一步研究方向： 本研究主要基于数字模块加混频技术来实现模拟信号发生器，并在FPGA板上进行了实现和测试。通过实验得到了较好的效果，但目前仍存在一些问题，比如信号纹波等方面需要进一步改进。 未来的研究方向包括提高信号纯度和抗干扰能力、拓宽信号频带、提高扰动能力和测试覆盖率等。心理学也有很多与数字信号处理相关的话题比如音频信号的信噪比，这些内容也可以加入研究范畴。此外，应该加强理论探索和实际应用的结合，推进该技术在实际工程应用中的发展和完善。 结论： 由于混合集号集成电路BIST方法以其高效、精确的特点，被广泛应用于高速数字系统集成电路的测试和可靠性问题的解决。对于模拟信号发生器的研究，需要重点关注信号纯度、抗干扰能力、信号频带、扰动能力和测试覆盖率等问题，并加强理论探索和实际应用结合，推进该技术在实际工程应用中的发展和完善。