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本发明公开了一种含晶态微量物证量化表征方法，包括样品前处理、衍射片子制备、仪器参数设置、全谱拟合方法。本发明按照优化的X射线衍射仪分析条件采集衍射图谱；采用多种分析测量手段，准确判断样品中所含晶相和非晶相成分；采用Rietveld精修全谱拟合方法，结合结构参数、峰形参数、仪器参数等多维因子，计算粉末衍射图谱，以实验图谱与计算图谱差别为目标函数，利用优化算法，获得针对该物相组成样品的模型参数，从而获取包含样品各组分含量、结构信息的实际参数。本专利解决了目前刑事技术领域微量物证利用X射线衍射法检验停
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117030763 A
(43)申请公布日 2023.11.10
(21)申请号 202310852498.3
(22)申请日 2023.07.12
(71)申请人 公安部鉴定中心
地址 10003
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