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本申请公开了一种芯片UID生成系统及方法，涉及集成电路测试技术领域，该系统包括待烧写芯片和与待烧写芯片通信连接的UID生成装置，UID生成装置用于接收待烧写芯片发送的UID获取命令，并根据UID获取命令对待烧写芯片写入UID信息。本申请定义了具有非常高的可靠性，同时具有完善的数据校验和恢复机制，可避免运行过程中出现的各种断电导致flash数据损坏问题，还同时支持16个不同芯片型号的UID产生，不需要测不同芯片时就更换一次程序，此外，整个UID生成流程由自己掌控，不需要FT测试厂家支持，可节省大量
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117113444 A
(43)申请公布日 2023.11.24
(21)申请号 202310935006.7
(22)申请日 2023.07.27
(71)申请人 杭州雄迈集成电路技术股份有限公
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