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本申请公开了一种驱动卡件测试电路及驱动卡件测试装置。其中，上述电路用于测试待测驱动卡件，包括变压器、整流桥、多个检测信号输出电路、直流供电电路和多个信号采集电路；变压器主绕组侧与外部电源连接，副绕组侧与整流桥连接；整流桥输出端通过直流供电电路与待测驱动卡件输入端连接；整流桥高电平和低电平的输出端分别连接在每个信号采集电路的两个输出端，每个信号采集电路的输入端与待测驱动卡件的一个通道的信号输出端连接；整流桥的低电平输出端通过每个检测信号输出电路与待测驱动卡件的一个通道的信号输入端连接。上述电路能够
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117110739 A
(43)申请公布日 2023.11.24
(21)申请号 202310961701.0
(22)申请日 2023.08.01
(71)申请人 中核检修有限公司
地址 2017
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