一种OLED器件性能指标仿真方法、系统、设备及介质.pdfVIP

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2023-11-25 发布于四川
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一种OLED器件性能指标仿真方法、系统、设备及介质.pdf

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本发明公开一种OLED器件性能指标仿真方法、系统、设备及介质，涉及器件仿真领域；该方法包括：构建目标OLED器件模型；获取目标OLED器件模型的直流参数的特性散点图；基于设定电压区间，对特性散点图进行分块处理，得到处理区间集；对处理区间集中的各个区间分别进行数学建模，得到处理区间集中的各个区间对应的数学模型；对任一数学模型，采用最小二乘法和遗传算法根据特性散点图，对数学模型中的参数进行优化调整，得到优化后的参数；对任一数学模型，基于优化后的参数进行仿真，得到数学模型对应的性能指标曲线图；本发明能

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117113837 A (43)申请公布日 2023.11.24 (21)申请号 202311079419.6 (22)申请日 2023.08.25 (71)申请人兰州大学地址 730000