芯片管壳的缺陷检测方法、存储介质及检测设备.pdfVIP

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2023-12-02 发布于四川
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芯片管壳的缺陷检测方法、存储介质及检测设备.pdf

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本发明涉及芯片管壳检测，具体提供一种芯片管壳的缺陷检测方法，旨在解决现有检测方法对小目标缺陷检测效果不佳的问题。本发明的检测方法步骤为：获取芯片管壳原始图像，并构建带有特征金字塔的图像特征抽取网络；根据图像特征抽取网络在原始图像上获取整张特征图；通过区域生成网络对整张特征图提取，获得缺陷候选区域及坐标；对缺陷候选区域通过归一化处理进行正负样本标签分配，获得缺陷区域的坐标；将坐标映射到缺陷特征图上的对应位置，经过分类器网络预测出缺陷类别和缺陷位置；使用极大值抑制算法，将预测出的缺陷类别和缺陷位置整

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117152417 A (43)申请公布日 2023.12.01 (21)申请号 202311180692.8 G06V 10/766 (2022.01)