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本公开涉及一种边界测试电路、存储器及边界测试方法,本公开实施例中的边界测试电路包括多个边界寄存器电路,边界寄存器电路一端接收初始测试信号,其另一端向下一级边界寄存器电路传送初始测试信号;多个状态控制电路,状态控制电路的输入端接收边界寄存器电路中保存的初始测试信号,其控制端接收一状态控制信号,其输出端向待测试的集成电路发送实时测试信号;其中,实时测试信号是与初始测试信号相位相同或者相位相反的信号。本公开实施例提供的边界测试电路可以提高测试效率以及测试灵活性。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN109192240A
(43)申请公布日
2019.01.11
(21)申请号20181
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