- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明涉及半导体材料制备领域,具体涉及一种等离子增强化学气相沉积生长GaON外延薄膜的制备方法。本发明采用金属镓作为镓源,以氧气作为氧源,以氮气为氮源,以氩气作为运输气体,进而制备GaON外延膜。本发明使用等离子增强化学气相沉积系统(PECVD)通过优化后生长参数来制备GaON外延膜,该方法能够借助辉光放电等离子体使含有薄膜组成的气态物质发生化学反应,进而实现薄膜材料生长。由于等离子体中含有大量高能量的电子,它们可以提供化学气相沉积过程所需要的激活能,因而显著降低反应温度和提高薄膜沉积的效率和质
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117187954A
(43)申请公布日2023.12.08
(21)申请号202310019040.X
(22)申请日2023.01.06
(71)申请人浙江理工大学
原创力文档


文档评论(0)