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本公开提供一种测试半导体芯片的芯片插座。该芯片插座包括一基座以及一固定件。该基座容纳待测的一芯片。该固定件具有一上本体以及一基底本体。该上本体具有一探测窗口，其中该探测窗口在该上本体的一外表面处的一第一开口区域大于该探测窗口在该上本体的一内表面处的一第二开口区域。当该上本体覆盖基底本体及夹取该芯片时，该基底本体贴合到该基座并锁固到该上本体。当该上本体覆盖该基底本体时，该探测窗口显露出该芯片的一表面，允许一探针经由该探测窗口接触该芯片的该表面。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117192161A
(43)申请公布日2023.12.08
(21)申请号202310197819.0
(22)申请日2023.03.03
(30)优先权数据
17/834,9422022
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