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重力式外观检查;重力式设备芯片检测工艺流程
编带包装的芯片外观检查和真空包装已在转塔式分选机中介绍,本章节对管装外观检查作简要介绍。管装的外观检查是对料管包装的芯片进行人工目检的工序,是在分选之后、真空入库之前进行的。;重力式外观检查——Ⅰ.概述
料管包装的外观检查,主要检查芯片管脚是否弯曲、数量是否与随件单一致、料管内电路方向是否正确、印章是否错误或缺损等情况。对于DIP/SOP封装的芯片一般采用抽检的方式进行检查,而对于模块电路则需要进行全检。
外检合格的芯片则进入后续的工序,对产品进行抽真空、装内盒、装箱等操作。;重力式外观检查——Ⅰ.概述
DIP封装的芯片和模块电路均采用料管包装,根据客户需求,部分SOP封装的芯片也会采用料管包装。管装电路的外检方式如下所示:
;重力式外观检查——Ⅱ.前期准备
1.领料
在外观检查前先擦拭清理工作台,如下图所示。然后根据物流提供的中转箱号到“待检查品货架”上领取待检查批次,通过推车将中转箱移到工作区。需要注意的是工作台上只允许存在一个批次的芯片,这是为了防止发生混料的情况。
;重力式外观检查——Ⅱ.前期准备
2.戴防静电护腕
在进行外观检查前需要佩戴防静电护腕,如下图所示。因为芯片是比较敏感的电路,很容易受到静电的干扰,甚至会被静电击穿而损坏,防静电护腕可以泄放人体内产生的静电,有效地保护芯片。;重力式外观检查——Ⅱ.前期准备
3.核对数量
将随件单、已测合格品与不良品从中转箱中取出,清点已测合格品和不良品的数量,并核对是否与随件单一致。核对无误后,将已测合格品放于工作台(图1)待检品区,随件单放于工作台的右侧,不良品放入工作台下方的不合格品箱(图2)中,随后可以开始外观检查的操作。;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
管装SOP与DIP外观检查步骤一致,但模块电路的检查步骤略有不同,下面以DIP与模块电路为例进行介绍。
1.检查外观——DIP
1)检查步骤
①从工作台的待检品区取一捆电路,平整地排放于桌面,使定位标记朝左、打印面朝操作者(图1);
②以一边为支点,将料管倾斜45°左右(使芯片??密排列),然后平铺在桌面上(图2);;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
1.检查外观——DIP
1)检查步骤
③检查塑封体是否有缺损、锡层是否不平整、电路方向是否有误、管脚是否弯曲等情况;
④将料管旋转180度后平整地铺于工作台上,重复步骤②和③,对芯片另一侧的塑封体、锡层和管脚进行检查;
⑤逐根翻转料管90度,使打印面朝上平铺于工作台,对数量、塑封体、印章、电路方向进行检查,如上图所示。
;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
1.检查外观——DIP
2)检查结果:
对于不合格的芯片需要取出,进行修复或者用合格零头进行替换。;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
1.检查外观——模块电路
1)检查步骤
①从工作台右侧待检测品区取一捆电路,正放于面前,检查塑封体、锡层外观、电路方向和印章有无问题(图1);
②将料管远离操作者略微倾斜45度,检查管脚有无弯曲、断裂等情况(图2);;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
1.检查外观——模块电路
1)检查步骤
③将料管旋转180度,重复步骤②;
④挑出疑似管脚不良电路,在通止规[1](图1)中验证,合格电路能够放入卡槽中并能自由上下滑动。;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
1.检查外观——模块电路
2)检查结果
模块电路除了塑封体、管脚、印章等不合格情况,还有电路正面金属散热片的不合格情况,如下图所示。;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
2.拼零
一批电路中有时会有零头的存在,此时需要进行拼零操作,电路拼零就是根据上一批同品种的零头数量,从本批次零头中取出一定数量的电路,合并成完整的一内盒,完成拼零。具体步骤如下:
①首先确认该品种下是否有零头在零头库。若查询没有零头,则对该批外观检查合格的零头电路放入内盒,待整批外观检查结束后,将零头盒放入零头库并做好记录;若查询到有零头,且为同品种、同型号、同档位的产品,则需要进行拼零操作。;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
2.拼零
②取出上一批电路的零头,核对数量和型号并检查电路外观,然后对不合格的芯片进行修复,若不能修复则作为外观不良进行处理,对合格的芯片进行拼零操作。
③根据零头数计算,把当前检查批次电路中检查合格的零头拆出合适的数量,与上一批的零头进行并批,拼零完成后将本批次剩余零头电路用内盒包装,放入零头库。;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
3.包装——DIP
完成检查后料管用橡皮筋捆扎,以内盒为单位在料管两端套上保护套袋并胶带固定(如下图),完成包装后放置在工作台左边的已检品区;其他未抽检到的芯片也依次进行包装。;重力式外观检查——Ⅲ.步骤
3.包装——模块电路
完成检查后料管用橡皮筋捆扎,以内盒为单位在电路两端套上塑料气泡袋(如右图)并用胶
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