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一种测量单晶叶片一次枝晶取向偏离角度的装置及方法.pdfVIP

一种测量单晶叶片一次枝晶取向偏离角度的装置及方法.pdf

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    本发明公开了一种测量单晶叶片一次枝晶取向偏离角度的装置及方法，涉及涡轮叶片铸造、航空发动机叶片铸造等精密铸造技术领域，测量单晶叶片一次枝晶取向偏离角度的装置包括底座、固定支架、角度观测器、旋转支架、旋转手臂和机械手，所述固定支架和所述旋转支架均设置在所述底座上，所述角度观测器设置在所述固定支架上，所述机械手通过所述旋转手臂设置在旋转支架上，所述旋转手臂与所述机械手转动连接，所述机械手用于固定样品，所述角度观测器用于观测样品在平面上的投影与轴向的角度。本发明替代了传统的X射线方法，不仅保证了测量结

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117232437A

    (43)申请公布日2023.12.15

    (21)申请号202311195582.9

    (22)申请日2023.09.15

    (71)申请人北京航空航天大学

    地址1001

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