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本发明涉及一种碳化硅化学气相沉积外延方法和碳化硅外延片。碳化硅化学气相沉积外延方法包括如下步骤:提供前驱体和载气,前驱体包括生长气源,生长气源为甲基三氯硅烷、甲基二氯硅烷、甲基氯硅烷或者甲基硅烷;将生长气源和载气注入气体混合装置中,调节气体混合装置的温度,以使生长气源在相应温度下可被载气带出所述气体混合装置;以及根据预设的碳硅比调节生长气源的浓度,之后由载气带出的生长气源在非冷凝状态下通入碳化硅化学气相沉积外延设备的反应腔室,进行碳化硅外延层的生长。本发明技术方案的碳化硅化学气相沉积外延方法能够
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117248275A
(43)申请公布日2023.12.19
(21)申请号202311543976.9
(22)申请日2023.11.20
(71)申请人希科半导体科技(苏州)有限公司
地
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