一种极紫外光刻掩模近场计算方法及系统.pdfVIP

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  • 2023-12-27 发布于四川
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一种极紫外光刻掩模近场计算方法及系统.pdf

本发明提供了一种极紫外光刻掩模近场计算方法及系统,包括:基于部分相干照明中各个光源点的入射角和偏振类型,生成各个光源点对应的入射场;基于掩模图案和吸收层生成掩模吸收体;基于掩模吸收体的折射率计算掩模吸收体对应的散射势;基于掩模吸收体对应的散射势,各个光源点对应的入射场,以及各个光源点对应的电场分布的初值,采用修正玻恩级数法计算各个光源点在掩模吸收体的电场分布,以确定各个光源点的掩模近场;其中,对于第一个计算的光源点,电场分布的初值为预设的,对于其他光源点,电场分布的初值为与其他光源点相近的光源点

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117289555A

(43)申请公布日2023.12.26

(21)申请号202311161823.8

(22)申请日2023.09.08

(71)申请人华中科技大学

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