数字电子技术基础实验(1).pptVIP

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数字电子技术基础实验实验一:TTL逻辑功能测试

熟悉常用逻辑门的逻辑功能。掌握门电路逻辑功能的测试方法用基本的门电路组合实现特定逻辑功能注意:TTL74系列门电路芯片的供电电压Vcc范围是4.75v-5.25v,过高会烧掉芯片。实验目的

实验内容74LS00(与非门)

74LS27(或非门)

74LS86(异或门)

74LS240

用作选通电路/EN是整个电路使能端,/EN=0时,G1工作,G2禁止,Y=/A1;/EN=1时,G1禁止,G2工作,Y=/A2。G1、G2构成两个开关。注意:非门没有专门的芯片,用一片74LS00(与非门),使其中一个管脚始终保持高电平即可实现非门的逻辑。

单向总线传输74LS240只提供了两个使能端/EN,所以要完成此电路的搭建,有以下两种方法:1.使用两片74LS240完成电路的搭建。2.观察书中表3-5中的/1EN、/2EN、/3EN,每次总是使能其中一个,因此,用一片74LS240中的三个三态门即可实现。

观察逻辑门对信号的控制作用1.脉冲信号的产生2.示波器的使用

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