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基于多扫描链的BIST设计的开题报告

一、研究背景

随着集成电路的不断发展，芯片规模越来越大，测试难度也越来越大。在芯片制造过程中，测试是保证芯片质量的关键步骤。BIST(Built-in-Self-Test)技术是现代芯片测试各种功能和故障的重要手段。它可以在芯片设计时加入一些测试电路，实现芯片自动测试功能，所有的测试都可以在芯片自身的测试模块中完成，无需外界测试设备的干预，减少测试时间和成本，提高测试效率。

多扫描链技术是BIST中常用的技术之一，它将扫描链串联起来，可以提高测试覆盖率和减少测试时钟的频率。在多扫描链技术中，每个扫描连包含多个存储元件，每个存储元件中存储了一个测试向量位对应的芯片内部状态。通过选择不同的扫描链可以覆盖到所有的内部状态。

但是，多扫描链的缺点也显而易见：当扫描链数量增加时，需要更长的测试时间，而且会产生更多的测试数据。如何在提高测试覆盖率的同时，减少测试时间和测试数据，是多扫描链BIST设计研究的关键问题。

二、研究内容

本课题将重点研究多扫描链BIST的设计方法，通过引入预载荷，可以减少测试时间和测试数据，并提高测试覆盖率。具体研究内容包括：

1.多扫描链BIST的基本原理和设计方法：介绍多扫描链BIST的原理及设计流程。

2.多扫描链BIST的测试覆盖率和测试时间的影响因素：分析基于多扫描链的BIST设计中，测试覆盖率和测试时间的影响因素。

3.预载荷多扫描链BIST的设计方法：提出一种基于预载荷的多扫描链BIST设计方法，并分析其测试覆盖率和测试时间的性能。

4.设计实例分析：通过案例分析，展示预载荷多扫描链BIST的设计效果。

三、研究计划

1）第一阶段（2周）：查阅文献，了解多扫描链BIST的基本原理、设计方法和过程。

2）第二阶段（3周）：探究多扫描链BIST的测试覆盖率和测试时间的影响因素，并拟定预载荷多扫描链BIST的设计方案。

3）第三阶段（4周）：实现预载荷多扫描链BIST的设计方案，对测试覆盖率和测试时间进行性能测试和分析。

4）第四阶段（3周）：进行设计实例分析，验证预载荷多扫描链BIST的设计效果，并完善研究论文。

四、研究意义

通过本研究，可以提高多扫描链BIST的测试效率，减少测试时间和测试数据，提高测试覆盖率，通过优化BIST方案，为芯片设计和制造提供技术保障，从而推动集成电路行业的向更高性能和更低成本的方向发展。