SPC制程统计管制.pptxVIP

spc;目录

1 SPC的产生

2 SPC的作用

3 SPC常用术语解释

4 持续改进及统计过程控制概述

a 制程控制系统

b 变差的普通及特殊原因

c 局部措施和对系统采取措施

d 过程控制和过程能力

e 过程改进循环及过程控制

f控制图;5管制图的类型

6管制图的选择方法

7计量型数据管制图

a与过程有关的控制图

b使用控制图的准备

cX-R图

dX-s图

e?X-R图

fX-MR图

8计数型数据管制图

ap图;bnp图cc图du图;SPC的产生

工业革命以后，随着生产力的进一步发展，大规模生产产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的的质量控制方法。

1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生生产过程当中，并发表了著名的“控“ 制图法”，” 对过程变量量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础础。;SPC的作用

1、确保制程持续稳定、可预测。

2、提高产品质量、生产能力、降低成本。

3、为制程分析提供依据。

4、区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或或对系统采取措施的指南。;SPC常用术语解释;名称;名称;制程控制系统有反馈的过程控制系统模型;变差的普通原因和特殊原因;;;局部措施和对系统采取措施;;;;控制图;管制图类型;控制图的选择方法;接上页;计量型数据控制图;;使用控制图的准备;接上页;均值和极差图（X-R）;接上页;、计算每个子组的均值（X）和极差R对每个子组计算：X=（X1+X2+…+Xn）/n

R=Xmax-Xmin

式中：X1，X2???为?子组内的每个测量值。n表示子组的样本容量

、选择控制图的刻度

两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。

刻度选择：;接上页

对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。

注：一个有用的建议是将R图的刻度值设置为X图刻度值的2倍。

（例如：平均值图上1个刻度代表0.01英寸，则在极差图上

1个刻度代表0.02英寸）

1-5、将均值和极差画到控制图上

5-1X图和R图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。5-2确保所画的X和R点在纵向是对应的。

注：对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研究”

字样。;2 计算控制限;接上页注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数

值见下表：;2-3在控制图上作出均值和极差控制限的控制线;分析极差图上的数据点

超出控制限的点

a出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分析。

b超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：

b.1控制限计算错误或描点时描错

b.2零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏）b.3测量系统变化（如：不同的检验员或量具）

c有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种c.1控制限或描点时描错

c.2分布的宽度变小（变好）

c.3测量系统已改变（包括数据编辑或变换）;;3-1-2链---有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：;注2：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。;;3-1-3明显的非随机图形;d如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果有40%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多多进行调查：;3-3重新计算控制限（极差图）

a在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因;3-4分析均值图上的数据点;;3-4-2链---有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：;;3-4-3明显的非随机图形;c-3数据已经过编辑(极差和均值相差太远的几个子组更改删除）d如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果有40%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：;;3-5识别并标注所有特殊原因（均值图）;3-7为了继续进行控制延长控制限;b–2按照新的子组容量查表得到系数d2、D3、D4和A2，计算新的极差和控制限：;4 过程能力分析;;;4-1计算过程的标准偏差σ?;4-2计算过程能力;4-2-2对于双向容差，计算：;4-2-3估计超出规范的百分比：（PZ