南京大学物化实验系列射线粉末衍射法测定晶胞常数.docxVIP

实验二十九X射线衍射法测定晶胞常数—粉末法

一．实验目的和要求

1、了解X射线衍射仪的基本原理、简单结构和操作方法。

2、掌握X射线粉末法的原理，测定NaCl或NHCl的晶体点阵形式、晶胞参数以

4

及晶胞中内含物的个数。

二．XRD技术的原理和仪器简单介绍1、X射线的产生

在抽至真空的X射线管中，钨丝阴极通电受热发射电子，电子在几万伏的高压下加速运动，打在由金属Cu(Fe、Mo)制成的阳靶上，在阳极产生X射线，如书上P256图III-8-1所示。

众所周知，X射线是一种波长比较短的电磁波。由X射线管产生的X射线，根据不同的实验条件有两种类型：

连续X射线(白色X射线)：和可见光的白光类似，由一组不同频率不同波长的X射线组成，产生机理比较复杂。一般可认为高速电子在阳靶中运动，因受阻力速度减慢，从而将一部分电子动能转化为X射线辐射能。

特征X射线(标识X射线)：是在连续X射线基础上叠加的若干条波长一定的X射线。当X光管的管压低于元素的激发电压时，只产生连续X射线；当管压高于激发电压时，在连续X射线基础上产生标识X射线；当管压继续增加，标识X射线波长不变，只是强度相应增加。标识X射线有很多条，其中强度最大的两

条分别称为K和K

α β

线，其波长只与阳极所用材料有关。

X射线产生的微观机理：从微观结构上看，当具有足够能量的电子将阳极金属原子中的内层电子轰击出来，使原子出于激发态，此时较外层的电子便会跃迁至内层填补空位，多余能量以X射线形式发射出来。阳极金属核外电子层

K-L-M-N…，如轰击出来的是K层电子(称为K系辐射)，由L层电子跃迁回K层

填补空穴，就产生特征谱线K，或由M层电子跃迁回K层填补空穴，就产生特

α

征谱线K。

β

当然，往后还有L系、M系辐射等，但一般情况下这些谱线对我们的用处不大。

2、X射线的吸收

在XRD实验中，通常需要获得单色X射线，滤去K

β

线，保留K线。

α

[提问：为什么不能用含有多种波长的多色X射线事实上就是通过提问对后面的思考题第1题作适当提示。]

吸收现象经常用于实验种获得单色X射线。如果在光路中放置一种物质(称

为滤光片或单色器)，这种物质的吸收限波长正好出于特征X射线K

α

和K波长

β

之间，从而能将绝大部分K

β

线滤去，而透过的K

α

线强度损失很小，得到基本上

是单色的K

α

辐射。我们实验中的阳极选用Cu靶，Cu靶产生的特征K

α

线的波长

λ＝?，K

β

线的波长λ＝?，因此可以选用Ni(其吸收限波长λ＝?)作滤波

片滤去Cu靶中产生的K

β

辐射，得到单色K线。

α

3、X射线衍射仪的构造

这部分不作要求，同学们只要简单知道是由X射线发生器、测角仪、记录仪这三大部分组成。

想要详细了解可以参看《现代仪器分析》、《固体表面分析》等相关参考书。

三．X射线粉末衍射法测定晶胞常数1、晶体与晶胞的概念首先需要明确

晶体是由具有一定结构的原子、原子团（或离子团）按一定的周期在三维空间重复排列而成的。反映整个晶体结构的最小平行六面体单元称为晶胞。晶胞的形状及大小可通过夹角?、?、?的三个边长a、b、c来描述，因此?、?、?

和a、b、c称为晶胞常数。

2、粉末法

当某一波长的单式X射线以一定的方向投射到晶体上时，晶体内的晶面(同一面上的结构单元构成的平面点阵)像镜面一样反射入射线。但不是任何的反射都是衍射。只有那些面间距为d，与入射的X射线的夹角为θ，且两相邻晶面反射的光程差为波长的整数倍n的晶面簇在反射方向的散射波，才会相互叠加而产生衍射，如图1所示。

光程差Δ=AB+BC=dsinθ+dsinθ=2dsinθ，即有Bragg方程2dsinθ=nλ，其中n称为衍射级数。

稍作变换，d

hkl

=d/n=λ/2sinθ，d

hkl

就是XRD图谱中所说的d值，也是PDF

卡片中d值的由来。

P

P

波前

nλ

O

θ

θ

d(h*k*l*)

A

C

B

图1 Bragg反射条件

θθ图2说明了衍射角的大小，即如果样品与入射线夹角为θ，晶体内某一簇晶面符合Bragg方程，那么其衍射线方向与入射线方向的夹角为2θ，称为衍射角。而θ

θ

θ

图2 衍射线方向和入射线方向的夹角

2

2

2

图3 半顶角为2θ的衍射圆锥

如图3所示，多晶样品中与入射X射线夹角为θ面间距为d的晶簇面晶体不止一个，而是无穷多个，且分布