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基于编码的SoC测试激励压缩方法研究的中期报告
该研究旨在探索一种基于编码的SoC测试激励压缩方法，以提高测试效率和降低测试成本。以下是该研究的中期报告：
1.研究背景和意义
随着芯片设计的复杂性和规模不断增加，SoC测试面临着更加严峻的挑战。传统的SoC测试方法需要大量的测试时间和资源，在很大程度上影响了生产周期和成本。因此，提高SoC测试的效率和减少测试成本是非常关键的。
基于编码的SoC测试激励压缩方法是一种有效的测试技术。利用编码技术对测试激励进行压缩，可以在不影响测试覆盖率的情况下，减少测试激励的数量和测试时间，从而降低测试成本。
2.目前进展和问题分析
当前，对于基于编码的SoC测试激励压缩方法，研究主要集中在编码算法的设计和优化上。常用的编码算法包括基于线性前向反馈寄存器的LFSR编码、基于置换的置换编码、基于迭代计算的Turbo编码等。这些编码算法可以有效地压缩测试激励，但也存在一些问题。
首先，编码算法的设计和优化需要针对具体应用场景进行。不同的SoC设计，其测试特性可能不同，需要选用不同的编码算法。
其次，编码算法的实现需要消耗一定的硬件资源和功耗。因此，需要对编码算法进行性能优化，以实现低功耗和高效率的测试。
最后，编码算法的解码和重构也需要一定的时间和资源。如何在解码和重构过程中保证测试激励的准确性和完整性是一个需要解决的问题。
3.下一步工作计划
针对上述问题，我们计划开展如下研究工作：
（1）基于SoC测试特性的编码算法选择和优化。结合不同的SoC设计和测试需求，选用最优的编码算法，并对其进行性能优化，以实现低功耗和高效率的测试。
（2）基于硬件架构的编码算法实现。将所选用的编码算法实现到硬件架构中，并对其进行性能测试和功耗分析。
（3）基于SoC测试特性的解码和重构算法设计和优化。针对不同的编码算法，设计适用的解码和重构算法，保证测试激励的准确性和完整性。
（4）系统实现和测试。将所设计的基于编码的SoC测试激励压缩方法实现到SoC芯片中，并进行测试和评估，验证该方法的有效性和可行性。
通过以上研究工作，我们期望可以开发出一种高效、低成本的基于编码的SoC测试激励压缩方法，为SoC测试领域的研究和实践做出贡献。
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