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医学影像成像理论(原理)实验指导

一、X线机输出量的测量实验

【实验目的】

1.掌握X线照射量的测量方法。

2.熟悉X线机输出量的测量方法。

【实验器材与设备】

具有透视功能的医用诊断X线机、照射量仪。

【实验方法与步骤】

1.将照射量仪电离室置于X线机透视床面板后射线束中心轴距床面板2cm处。

2.将照射量仪调节到照射量率测量档，并选择适当量程。

3.选择不同管电压、管电流，分别测量X线机输出照射量率。

【实验结果与分析】

将实验步骤3中测得的X线机输出照射量率填入表3-2中×分析照射量率与曝光条件

kV和mAs之间的关系。

表3-2不同曝光条件下《线机输量表

曝光条件(kV/mA)

60/260/370270/380/280/3

X线输出量(c·kg-1

·s)

二、是的测量实验

【实验目的】

1.加深理解铅当量的概念。

2.学习铅当量的测法。

【实验器材发股备》

X线机、标准、激光准直器、测试仪、米尺、透射光密度计、待测试料(铅橡皮、

诊视床板、铅玻璃、水泥板等)。

【实验方法与步骤】

1.按图3-7摆放实验器材。

图3-7铅当量测试装置

2.用激光准直器将X线管焦点、铅当量测试仪准直圆孔的中心和电离室的有效中心调整

在同一条直线上。

3.使焦点至铅当量测试仪准直圆孔的中心的距离为40cm,标准铅片至电离室有效中心

的距离为10cm。

4.调节照射野的大小，有用线束在标准铅片处的照射直径不大于4cm。

5.选定kV和mAs。

6.测定没有铅片(d=0)时测试点处的照射量率X?。

7.由薄到厚依次在准直孔内加入铅片，分别记录测试点处的照射量率X。

8.将各种不同厚度试料插入准直孔内，用上述的几何条件和照射条件，分别测量透射照

射量率。

【实验结果与分析】

1.将实验步骤7中测得测试点处的照射量率X填入表3-3中，在以铅片厚度为横坐标、

X线透射照射量率为纵坐标的半对数坐标纸上做出铅的吸收曲线。

表3-3不同厚度铅片的照射量率

标准铅厚度d(mm)0

透射照射量率X

(C·Kg1·s1)

2.将实验步骤8中测得各种试料测试点处的透课定射量率填入表3-4中，从铅的吸收曲线上找出与各种试料相同的照射量率数值，值对应的铅的厚度即为这些试料的铅当

量。

不同试料的铅当量

试料名称

试料厚度(mm)

透射照射量率X

(C·Kg·s1)

铅当量(mmPb)

三、半价层的测量实验

【实验目的】

1.掌握半价层的基本概念。

2.掌握半价层的测量方法。

【实验器材与设备】

X线机、照射量仪、不同厚度标准滤过铝片、铅准直器、水准仪、米尺等。

【实验方法与步骤】

1.按图3-8所示放置测量仪器。

图3-8半价层的测量示意图

图3-8半价层的测量示意图

2.利用水准仪调整X线管焦点、准直器圆孔中心及探头中心之位置，使其在一条直线

上。

3.利用米尺测量焦点到标准滤过片(准直器圆孔中心位置)距离为40cm,焦点到探测

器有效中心位置为50cm。

4.分别预选照射条件，管电压kV、管电流mA及曝光时间s。

5.在铅准直器内分别放置不同厚度标准铝滤过片，测量对应不同吸收铝片时透射X线强

度。

6.变换照射条件，观察半价层与照射条件之间的关系。

【实验结果与分析】

将实验步骤5中测得数据填入表3-5中，以表中吸收铝物厚度为横坐标，以测量的透射X线量为纵坐标，在半对数坐标纸上绘制标准铝片吸收典线标准铝片吸收曲线确定透射

线量为没有吸收铝片时射线强度一半所对应的铝片像博，即在该照射条件下的半价层厚度。

表3-5不同标准吸收铝技一支射线量(c/kg·s)

吸收铝片

(mm)

00.40.8

1.01.4

2.04.0

透射线量

(c·kg1·s)

西、管电压在X线摄影中的作用实验

【实验目的予

通过选用不同的管电压对铝梯进行摄影，将铝梯照片的密度值作图3-9所示的坐标图观

察，掌握管电压在X线摄影中所起的作用。

图3-9铝梯X线照片密度曲线

【实验器材与设备】

X线机、X线照片密度仪、暗盒、胶片、铝梯、铅橡皮、铅号码、坐标纸。

【实验方法与步骤】

1.将装有10”×12”X线胶片的暗盒用铅笔在长轴方向分成五等份，分别标记为I、Ⅱ、

Ⅲ、IV、V五个区。将暗盒置于摄影台上，使暗盒长轴垂直于摄影台长轴(不采用暗盒长轴

平行于摄影台长轴的原因是避免阳极效应的影响)。

2.将铝梯置于暗盒的第I区中间，用铅橡皮遮盖Ⅱ、Ⅲ、IV、V区，调整X线管位置使焦一片距为100cm,X线中心线通过第I曝光区中心垂直入射，曝光条件为40kV、