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芯片测试方法、测试电路及测试系统.pdfVIP

芯片测试方法、测试电路及测试系统.pdf

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    公开了一种芯片测试方法、测试电路及测试系统，涉及集成电路测试技术领域，该方法包括获取用于测试待测芯片的测试指令；基于测试指令，确定测试模式；测试模式包括系统级测试模式和老化测试模式；基于测试模式和测试指令对车载芯片进行系统级测试和老化测试。本公开的技术方案通过同一测试设备进行系统级测试和老化测试，因此，可以通过同一测试站点完成待测芯片的系统级测试和老化测试，提高了待测芯片的测试效率，降低了待测芯片的测试成本。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117723936A

    (43)申请公布日2024.03.19

    (21)申请号202311725101.0

    (22)申请日2023.12.14

    (71)申请人北京地平线信息技术有限公司

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