射频阻抗计量器具检定系统表.docx

JJG2011—1987

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射频阻抗计量器具检定系统表*

本检定系统表适用于射(高)频集总参数阻抗计量器具(即检测20kHz~1GHz频段的R,L,C元件和材料电磁特性所用的仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。

一计量基准器具

1高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20kHz~1000MHz高频阻抗量值(包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备和量具。

2射(高)频集总参数阻抗计量基准器具包括:

2.1空气介质同轴线阻抗基准,其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗国家基准,本检定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻抗量值的统一。在(1~1000)MHz频段,其技术指标为:

反射系数模值|Γ|:1.000±0.002;

相角:±180°±0.5°。

2.2高频阻抗精密测量装置。它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪,经过准确度论证分析,保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能:

频率:(1~1000)MHz;

反射系数模值|Γ|:1.000±(0.003~0.007);

相角θ:±180°±0.5°;

阻抗模值|Z|:1Ω~10kΩ±(0.5~10)%;

电容C:10pF~100nF±(0.2~10)%;

电感L:10nH~100μH±(0.2~10)%;

损耗:tgδ(D)0.001~0.5±(0.002~0.05)。

二高频集总参数阻抗标准

3集总参数阻抗标准包括:

3.1高频阻抗标准件50Ω,0Ω,0S。它们由国家基准通过直接比对法传递量值,技术特性如下:

50Ω:|Γ|≤0.0025;

0Ω:残余阻抗小于2mΩ;

0S:边缘电容值0.080pF。

注:自2003年之后,原“计量检定系统”统称为“计量检定系统表”。

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这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻抗分析仪、高频LCR表等通用高频阻抗测量仪器(校准中还需使用直流和低频阻抗标准件)。并由50Ω阻抗件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等标准设备。

3.2高频、低频阻抗分析仪。这些是市售商品高准确度阻抗测量仪器,也用作计量标准设备,用以定标低准确度的阻抗标准量具。其技术指标为:

频率:20kHz~1000MHz;

阻抗|Z|:1Ω~10kΩ±(1~20)%;

电容C:10pF~100nF±(0.5~20)%;

电感L:10nH~1.00H±(0.5~20)%。

3.3高Q测量装置是按谐振原理设计的阻抗测量设备,用以定标Q值标准、电容损耗标准。其主要技术指标为:

频率:22kHz~70MHz;

Q值:10.0~1000±(1~10)%;

电容损耗:tgδ10-2~10-5±1×10-5。

(电容损耗仅指300kHz和1MHz频率下)

3.4高频介质精密测量装置,是用于定标电介质材料复数介电常数的设备,技术指标为:

频率:100kHz~100MHz;

复介电常数实数部分:ε2~10±0.5%;

介质损耗角正切:tgδ1×10-3~1×10-5±1×10-5。

3.5高频阻抗标准量具组是适应不同阻抗仪器的检定要求设计的,一系列模拟被测件典型参数的阻抗件。最主要的有:

aQ标准量具组:检定高频Q表用,频率:22kHz~70MHz,Q值:60~600,C值:(50~400)pF。

b高频电感量具组:检定高频电感电容测量仪器,频率:(0.7~1.55)MHz,电感值:1μH~100mH。

c高频电容量具组:检定高频电感电容测量仪器用,频率:290kHz~1MHz,电容值:(100~5000)pF。

d高频标准电容组:频率:1kHz~10MHz,电容量:1pF,10pF,100pF,