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本发明实施例公开了一种光学元件的测量系统及其测量方法。测量系统包括：旋转模块，放置并带动光学元件旋转；激光器，向光学元件的反光侧面投射激光束；图像采集模块，接收反射激光束随旋转模块旋转形成的扫描线；控制模块，控制旋转模块带动光学元件旋转、控制激光器发射激光束以及控制图像采集模块接收扫描线；上位机，确定扫描线之间的最大间距并转换为实际最大间距，计算光学元件中复数个反光侧面之间的最大倾斜角度差。该系统通过旋转模块使得光学元件高速旋转，能够同时测量光学元件所有反光侧面的扫描线情况，进而直接计算获得反光
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117804747A
(43)申请公布日2024.04.02
(21)申请号202311863765.3
(22)申请日2023.12.29
(71)申请人东莞市宇瞳汽车视觉有限公司
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