原创力文档- 1、本文档共8页，可阅读全部内容。
- 2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
第28卷第1期电机与控制学报Vol.28No.1
2024年1月ElectricMachinesandControlJan.2024
基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化
及可靠性研究
1,2,31,21,241,21,2
牛峰,张博恒,李贵衡,戴逸华,项石虎,李奎
(1.河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津300401;2.河北工业大学省部共建电工装备可靠性
与智能化国家重点实验室,天津300401;3.常熟开关制造有限公司,江苏常熟215500;
4.北京蓝普锋科技有限公司,北京102218)
摘要:在电子电路服役过程中,元器件退化会引起电路输出特性变化,降低电子电路的可靠性。
漏电信号调理电路作为一种电子电路,其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性。以漏电信号调
理电路为研究对象,首先基于灵敏度分析方法确定影响电路性能退化的关键元器件,并对漏电信号
调理电路进行了以温度为加速应力、动作电流值为退化特征量的恒定应力加速退化试验;其次根据
不同温度应力下的试验数据建立基于Wiener过程的漏电信号调理电路性能退化模型,并利用极大
似然估计法求取退化模型的未知参数,进而得出寿命预测的概率密度函数和可靠度函数;最后利用
阿伦尼斯(Arrhenius)方程外推出正常应力下漏电信号调理电路的预测寿命。相关结论可为不同
电子电路的寿命预测及可靠度分析提供支撑。
关键词:加速退化试验;性能退化;退化建模;寿命预测;Wiener过程;电子电路
DOI:10.15938/j.emc.2024.01.006
中图分类号:TM344.6文献标志码:A文章编号:1007-449X(2024)01-0061-08
Performancedegradationandreliabilityofleakagesignalconditioning
circuitbasedonaccelerateddegradationtest
1,2,31,21,241,21,2
NIUFeng,ZHANGBoheng,LIGuiheng,DAIYihua,XIANGShihu,LIKui
(1.KeyLabofElectromagneticFieldandElectricalApparatusReliabilityofHebeiProvince,HebeiUniversityofTechnology,
Tianjin300401,China;2.StateKeyLabofReliabilityandIntelligenceofElectricalEquipment,HebeiUniversityof
Technology,Tianjin300401,China;3.ChangshuSwitchManufacturingCo.,Ltd.,Changshu215500,China;
4.BeijingRunpowerTechnologyCo.,Ltd.,Beijing102218
文档评论（0）