电磁兼容 试验和测量技术 第36部分:设备和系统的有意电磁干扰抗扰度试验方法.pdfVIP

电磁兼容 试验和测量技术 第36部分:设备和系统的有意电磁干扰抗扰度试验方法.pdf

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目次

1范围1

2规范性引用文件1

3术语、定义和缩略语1

4概述5

5IEMI环境和作用6

5.1概述6

5.2IEMI环境6

5.2.1技术能力组6

5.2.2IEMI部署方案6

5.2.3辐射IEMI环境总结7

5.2.4已发布的传导IEMI环境7

5.3对受扰设备、系统和装置的作用7

5.3.1概述7

5.3.2防护电平等级8

6试验方法9

6.1适用试验方法的推导9

6.2传递函数的推导10

6.3使用IEMI模拟器的辐射试验10

6.4使用混波室的辐射试验10

6.5复杂波形注入(CWI)10

6.6阻尼正弦波注入(DSI)10

6.7静电放电(ESD)10

6.8电快速瞬变(EFT)11

6.9天线端口注入11

7试验参数11

7.1抗扰度试验参数的推导11

7.2辐射试验参数11

7.2.1通用超宽带试验参数(熟手)11

7.2.2通用宽带试验参数(熟手)13

7.2.3通用窄带试验参数(熟手)15

7.3通用传导IEMI试验参数15

7.3.1概述15

7.3.2快速阻尼振荡波发生器的特性和性能16

7.4剪裁的试验电平推导17

7.5EMC抗扰度数据的相关性17

附录A(资料性)失效机制和性能判据19

附录B(资料性)IEMI源环境的发展23

I

附录C(资料性)与建筑物的相互作用33

附录D(资料性)平面波抗扰度试验与混波室抗扰度试验的关系36

附录E(资料性)复杂波形注入-试验方法43

附录F(资料性)试验方法裕度的重要性54

附录G(资料性)有意EMI-干扰机的问题59

附录H(规范性)超宽带和宽带辐射瞬变抗扰度试验方法62

附录I(资料性)用于测量超宽带和宽带辐射瞬态场的传感器校准方法和测量不确定度71

II

电磁兼容试验和测量技术

第36部分:设备和系统的有意电磁干扰抗扰度试验方法

1范围

本文件给出了用于评估设备和系统对有意电磁干扰(IEMI)源的抗扰度试验电平的确定方法,介绍

了一般的IEMI问题、IEMI源参数、试验限值的推导,并总结了实际的试验方法。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,

仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本

文件。

IEC60050-161国际电工词汇(IEV)第161章:电磁兼容[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Chapter161:Electromagneticcompatibility]

注:GB/T4365-2003电工术语电磁兼容(IEC60050(161):1990,IDT)

3术语、定义和缩略语

IEC60050-161界定的以及下列术语、定义和缩略语适用于本文件。

3.1术语和定义

3.1.1

衰减attenuation

因吸收和散射而导致的电场、磁场或电流、电压幅值的减小,衰减值通常用分贝(dB)表示。

[来源:IEC61000-2-13:2005[3],3.1]

3.1.2

频段比bandratio

在包含90%能量的频段中,频率上限和频率下限的比值。

注:频谱中如果含有大量的直流成分,频率下限定义为1Hz。

[3]

[来源:IEC61000-2-13:2005,3.2,有修改]

3.1.3

十倍频程频段比bandratiodecades

以十倍频程表示的频段比:十倍频程频段比=lg(频段比)。

[来源:IEC61000-2-13:2005[3],3.3]

3.1.4

猝发burst

数量有限且清晰可辨的脉冲序列或持续时间有限

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