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ICP-AES测定高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中杂质元素的研究的开题报告

标题：ICP-AES测定高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中杂质元素的研究

摘要：

本研究旨在采用ICP-AES技术测定高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中的杂质元素，并对其测定方法进行研究。首先，将样品溶解后，利用ICP-AES对样品中的主要元素进行测定，然后再利用ICP-AES对杂质元素进行测定。处理数据的方法主要包括利用标准加入法进行定量分析和平行样品法进行误差分析。通过以上方法，可以准确、快速地测定出高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中的杂质元素，为实际分析应用提供技术支持。

关键词：

ICP-AES；高纯钼；三氧化钼；钼酸铵；杂质元素；定量分析；误差分析

一、研究背景

钼及其化合物广泛应用于冶金、化工、药品、电子等领域，其纯度对应用效果有重要影响。而钼及其化合物常常存在一定的杂质元素，特别是痕量元素，这些杂质元素往往对钼产品的质量和效果有很大的影响，因此需要对其进行准确的测定和控制。ICP-AES作为一种快速、准确、全面的元素分析技术，被广泛应用于钼及其化合物的痕量元素测定。本研究旨在利用ICP-AES技术对高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中的痕量杂质元素进行测定和研究。

二、研究内容和目的

1.收集相关资料，总结ICP-AES技术在钼及其化合物分析中的应用；

2.确定样品处理方法和ICP-AES测定条件；

3.对高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中的主要元素进行测定，并对检测结果进行分析；

4.对高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中的杂质元素进行测定，并对检测结果进行分析和误差分析。

三、研究方法

1.样品制备

高纯钼、三氧化钼、钼酸铵样品按照一定比例分别取一定量的样品，加入一定量的溶剂进行前处理，使其在ICP-AES检测前得到获得稳定、溶解度好的样品。

2.ICP-AES测定

采用ICP-AES仪器对样品中主要元素和杂质元素进行测定，对于杂质元素还需采取合适的处理方法，包括平行样品法和标准加入法等。

3.数据处理

采用Excel等软件进行数据的处理，完成各元素含量的计算和误差分析。

4.结果分析

将ICP-AES测定结果进行统计分析，评估相关的数据可靠性和精度，并与已有文献结果进行比较和验证。

四、预期结果和意义

通过本研究，可以得到高纯钼、三氧化钼、钼酸铵中痕量杂质元素的含量及其误差分析结果，掌握ICP-AES技术在钼及其化合物中痕量元素测定的方法，为钼产品生产和质量控制提供可靠技术支持。