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摘要
随着半导体技术的发展和工艺的不断提升，对传输的速率和信号质量的要求越来
越高，当前主流的SERDES的串行传输方式取代了以前的并行传输方式。目前大多数
的FPGA(FieldProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)都内嵌了SERDES接口作
为高速信号传输的方式。由于这样的高集成度和高速率传输，对测试能力的要求也越
来越高，传统的独立仪器协同测试和板级互连测试方式也已经满足不了现在复杂的测
试需求。因此，为了保证对内嵌SERDES接口
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