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摘要
随着射线检测技术的发展,高分辨率、高探测效率已经成为目前探测器的主要
性能要求。微通道阵列式CsI:Tl闪烁体X射线探测器的阵列式结构设计可以在保证
探测器具有高探测效率的同时,兼具高分辨率,从而受到国内外研究人员的广泛关
注。CsI:Tl闪烁屏的光光转换性能研究,及其与光电探测器的耦合性研究,是提升该
X射线探测器性能质量的关键。本文从建模仿真角度出发,研究了CsI:Tl闪烁屏
光光转换性能、空间分辨率表现,以及探测器的耦合相关问题。同时,从实验制备
角度出发,对其制备工艺进行
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