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学习漏测的方法;检查漏测的元件,用CTRL+X可看到低解晰的图片,用CTRL+V可看到高解晰的图片.(本例中采用缺点照片);采用不同的灯光和相机,观察缺点与正常元件的区别,如果看不出好与坏的差异,尽量不要学习.本页显示了不同灯光不同方向相机看到的不同效果.;可以在这里选择不同的相机,也可用键盘的“+”和“-”切换.;首先必须确认是否有错误设置造成漏测.;确认检查此缺点的相关参数:不能设置为0,或太低,一般来说,可学参数的设定不要小于4,具体设置视情况而定.;元件的长宽高也要正确设定.;检查焊盘大小及偏移量的设置.;还需要检查LIBRARY的设定,双击Type栏点击lib进入Library. ;检查元件的“BasicType”是否正确．;下一步需要确认机器检查的位置是否正确，选择相应的Graphlevel.;选择“solderjointsync(2)“或者元件的数量较少时选择〔３〕，差异在于〔３〕会一步一步显示结果．;用CTRL-T将该行ＴＡＧ起来．.;按住ＣＴＲＬ键点击“ＧＯ”，〔如果之前已经测试过定位点〕，如果采用缺点照片，那么不需要按ＣＴＲＬ键．;检查完所有相关设定后，如果一切正常，仍然漏测，才需要将此ＳＡＭＰＬＥ学习到ＳＨＡＰＥFILE.;首先,需要选择学习的类型,本例中学习漏测,所以选择“Collectescape/falsealarms”.;选择“ESCAPES”.;本例中漏测缺点为少锡,相关参数为“B”.;学习前，设置“Hiresretest”为ＯＮ．使缺点同时学习到高解晰．;这里输入学习的数据要保存的路径，产生的文件以＊．OAD(ＰHD)保存，如果这里是空白，那么＊．ＯＡＤ〔ＰＨＤ〕将保存在程序的相同路径下．;按住ＣＴＲＬ键点击“ＧＯ”．;在设定的路径下，将看到一个与该程序名称相同但后缀为ＯＡＤ的文件产生，如果之前已经有此文件，那么新学习的信息会累加到该文件中，不会再产生新的文件．;在Optimate软件点击此按钮调出需要学习的“ＳＨＡＰＥFILE”.;点击此按钮选择刚刚学习得到的OAD文件.;选择“Escape”模式.;..这里会显示OAD的路径..;这个表格显示OAD(PAD)文件的内容,列出将要学习错误信息.;(Optimate)优化包括3个阶段,第一阶段为测试阶段,就象机器在测试元件一样,会显示出检查结果,(X)表示错误,(V)表示正常,后面的数字表示测试的结果.;调整阶段样品也可能被拒绝,如果这里显示“?”表示样品被拒绝,将不会改善检测能力.“*”表示样品被接受;将滚动条拉到右边,可看到上下解晰的样品数量,板子名称及MINIBOARD数量的相关信息.;这里“1”表示调整前有一个漏测,调整后有“0”个漏测.;点击这个按钮或按F2保存.;点击这里调用优化后的SHAPEＦＩＬＥ，如果系统处于自动测试状态，不需调用，系统会自动更新．;再测试该元件，系统将报告刚刚学习的参数出错．
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