电子技术基础实验指导教程 课件 第二章 集成运算放大电路.pptx

第二章集成运算放大电路2.1集成运算放大器指标测试2.2模拟运算电路2.3有源滤波电路2.4电压比较电路2.5波形发生电路

2.1集成运算放大器指标测试1.实验目的1）掌握集成运算放大器主要指标的测试方法。2）通过对集成运算放大器mA741?的指标进行测试，了解集成运算放大器组件的主要参数的定义和表示方法。2.实验设备与元器件1）±12V直流电源2）交流毫伏表3）函数信号发生器4）直流电压表5）双踪示波器6）集成运算放大器A741×17）电阻、电容若干

2.1集成运算放大器指标测试3.实验原理集成运算放大器（以下简称运放）是一种线性集成电路，和其他半导体器件一样，它是用一些指标来衡量其质量优劣的。为了正确地使用运放，就必须了解它的主要指标。运放的各项指标通常是用专用仪器进行测试的，这里介绍的是一种简易测试方法。本实验采用的运放型号为mA741（或F007），引脚图如图2-1所示，它是8脚双列直插式组件，②脚和③脚分别为反相输入端和同相输入端，⑥脚为输出端，⑦脚和④脚为正、负电源端，①脚和⑤脚为失调调零端（①脚和⑤脚之间可接入一只几十千欧的电位器，并将滑动触头接到负电源端），⑧脚为空脚。1）mA741主要指标测试（1）输入失调电压UOS。当理想运放的输入信号为零时，其输出也为零。但是即使是最优质的集成组件，其运放内部差动输入级参数不完全对称，输出电压也往往不为零。这种零输入时输出不为零的现象称为运放的失调。输入失调电压UOS是指输入信号为零时，输出端出现的电压折算到同相输入端的数值。

2.1集成运算放大器指标测试输入失调电压测试电路如图2-2所示。闭合开关K1及K2，使电阻RB短接，此时的输出电压Uo1即为输出失调电压，则输入失调电压为实际测出的UOS可能为正，也可能为负，一般为1～5mV。对于高质量的运放，UOS在1mV以下。测试中应注意：①将运放的调零端开路；②要求电阻R1和R2、R3和RF的参数严格对称。

2.1集成运算放大器指标测试（2）输入失调电流IOS。输入失调电流IOS是指当输入信号为零时，运放的两个输入端的基极偏置电流之差 输入失调电流的大小反映了运放内部差动输入级两个晶体管的β的失配度，由于IB1、IB2本身的数值已很小（微安级），因此它们的差值通常不能直接测量，测试电路如图2-2所示，测试分两步进行：①闭合开关K1及K2，在低输入电阻下，如前所述测出输出电压Uo1，这是由输入失调电压UOS所引起的输出电压；②断开开关K1及K2，接入两个输入电阻RB，由于RB的阻值较大，流经它们的输入电流的差异将变成输入电压的差异，因此也会影响输出电压的大小，可见测出两个电阻RB接入时的输出电压Uo2。若从中忽略输入失调电压UOS的影响，则输入失调电流IOS为

2.1集成运算放大器指标测试（3）开环差模电压放大倍数Aud。运放在没有外部反馈时的直流差模电压放大倍数称为开环差模电压放大倍数，用Aud表示，它定义为开环输出电压Uo与两个差分输入端之间所加电压Uid之比按定义，Aud应是信号频率为零时的直流放大倍数，但为了测试方便，通常采用低频（几十赫兹以下）正弦交流信号进行测量。由于运放的开环电压放大倍数很大，难以直接进行测量，因此一般采用闭环测量方法。Aud的测试方法有很多，现采用交、直流同时闭环的测试方法，如图2-3所示。

2.1集成运算放大器指标测试（4）共模抑制比（CMRR）。运放的差模电压放大倍数Ad与共模电压放大倍数Ac之比称为共模抑制比共模抑制比在应用中是一个很重要的参数，理想运放对输入的共模信号的输出为零，但在实际的运放中，其输出不可能没有共模信号的成分，输出端共模信号越小，说明电路的对称性越好。也就是说，运放对共模干扰信号的抑制能力越强，即CMRR越大。CMRR的测试电路如图2-4所示。得共模抑制比：

2.1集成运算放大器指标测试（5）共模输入电压范围Uicm。集成运放所能承受的最大共模电压称为共模输入电压范围，超出这个范围，运放的CMRR会大大下降，输出波形会产生失真，有些运放还会出现自锁现象及永久性损坏。Uicm的测试电路如图2-5所示。被测运放接成电压跟随器的形式，输出端接双踪示波器，观察最大不失真输出波形，从而确定Uicm值。（6）输出电压动态范围Uopp。集成运放的输出电压动态范围与电源电压、外接负载及信号源的频率有关。测试电路如图2-6所示。改变uS的幅度，观察uo削顶失真开始的时刻，从而确定uo的不失真范围，这就是运放在某一电源电压下可能输出的电压峰峰值。

2.1集成运算放大器指标测试4.?实验内容实验前应