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1+X集成电路理论试题(含答案)
一、单选题(共39题,每题1分,共39分)
1.()分选工序依靠主转盘执行,上料后主转盘旋转,每转动一格,都会将产品送到各个工位,每个工位对应不同的作用,包括上料位、光检位、旋转纠姿位、功能测试位等,从而实现芯片的测试与分选。
A、平移式分选机
B、转塔式分选机
C、重力式分选机
D、真空螺旋分选机
正确答案:B
2.晶圆进行扎针测试时,其操作步骤正确的是()。
A、输入晶圆信息→检查扎针情况(无异常)→测试→清零→继续测试→记录测试结果
B、输入晶圆信息→测试→清零→检查扎针情况(有异常)→异常情况处理→继续测试→记录测试结果
C、输入晶圆信息→测试→检查扎针情况(有异常)→异常情况处理→清零→继续测试→记录测试结果
D、输入晶圆信息→清零→测试→检查扎针情况(无异常)→继续测试→记录测试结果
正确答案:D
3.晶圆检测工艺中,6英寸的晶圆进行晶圆墨点烘烤时,烘烤时长一般为()分钟。
A、5
B、1
C、20
D、10
正确答案:A
4.去飞边的目的是()。
A、去除电镀后引脚镀层外围多余的镀料
B、去除注塑工序塑封周围、引线之间的多余溢料
C、去除激光打字后标识打印有瑕疵的部分
D、去除引脚周围长出的晶须
正确答案:B
5.PE板函数:_set_drvpin()函数原形:void_set_drvpin(char*logic,unsignedintPin,...);函数功能:设置输出(驱动)管脚的逻辑状态;参数说明:*logic——逻辑标志(“H”,“L”),H:高电平,L:低电平,pin,...——管脚序列(1,2,3,…64),管脚序列要以0结尾;现设定PIN1,3,5输出高电平,实例代码为:()。
A、_sel_drv_pin(“H”,1,5,3,0);
B、_sel_drv_pin(“L”,1,3,5,1);
C、_sel_drv_pin(“L”,1,5,3,1);
D、_sel_drv_pin(“H”,1,3,5,0);
正确答案:D
6.若想取下蓝膜上的晶圆或晶粒,需要照射适量(),能降低蓝膜的黏着力。
A、红外线
B、太阳光
C、蓝色光源
D、紫外线
正确答案:D
答案解析:对需要重新贴膜或加工结束后的晶圆,需要从蓝膜上取下,此时只需照射适量紫外线,就能瞬间降低蓝膜黏着力,轻松取下晶圆或晶粒。
7.使用重力式分选机设备进行芯片检测,当遇到料管卡料时,设备会()。
A、继续操作
B、会自动处理
C、停止运行并报警
D、只进行报警
正确答案:C
答案解析:重力式分选机进行芯片检测时,如果遇到料管满管或者卡料时,会出现设备自动停测并报警提示。
8.单晶炉中籽晶轴的作用是()。
A、保证炉内温度均匀分布及散热
B、带动籽晶上下移动和旋转
C、起支撑作用
D、提供一个原子重新排列标准
正确答案:B
答案解析:籽晶轴的作用是带动籽晶上下移动和旋转;籽晶的作用是提供一个原子重新排列的标准;坩埚外的高纯石墨坩埚托起支撑作用;炉腔可以保证炉内温度均匀分布及散热。
9.重力式外观检查是在()环节之前进行的。
A、编带
B、测试
C、分选
D、真空包装
正确答案:D
答案解析:重力式分选机设备芯片检测工艺流程:上料→测试→分选→编带(SOP)→外观检查→真空包装。
10.芯片外观检查前为了防止静电击穿损坏,工作人员必须佩戴()。
A、防静电护腕
B、绝缘手套
C、无纺布手套
D、绝缘服
正确答案:A
11.料盘外观全部检查完后,对合格的料盘需要进行临时捆扎,临时捆扎时将()盒料盘(不含空料盘)捆扎在一起。
A、9
B、10
C、11
D、12
正确答案:B
答案解析:料盘外观全部检查完后,对合格的料盘需要进行临时捆扎,临时捆扎时将10盒料盘(不含空料盘)捆扎在一起。
12.料盘检查完后,需要以最小内盒数为单位拆批打印标签,一式()份。
A、1
B、2
C、3
D、4
正确答案:B
答案解析:料盘检查完后,需要以最小内盒数为单位拆批打印标签,一式两份。
13.芯片检测工艺通常在()无尘车间内进行。
A、百级
B、千级
C、十万级
D、三十万级
正确答案:B
答案解析:芯片检测工艺是对完成封装的芯片进行电性测试,其芯片为非裸露状态,通常在常规千级无尘车间内进行,其温度为22±3℃,湿度为55±10%。
14.芯片粘接过程中点银浆之后进入()步骤。
A、框架上料
B、芯片拾取
C、框架收料
D、银浆固化
正确答案:B
答案解析:芯片粘接流程为:放置引线框架和晶圆→参数设置→框架上料→点银浆→芯片拾取→框架收料→银浆固化(烘烤箱内进行)。
15.利用全自动探针台进行扎针测试时,关于上片的步骤,下列所述正确的是()。
A、打开盖子→花篮放置→花篮下降→花篮固定→花篮到位→合上盖子
B、打开盖子→花篮放置→花篮
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