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声明：本讲义内容用于内部交流和学习，请注意保护作者的版权
集成电路测试方法研究
华中科技大学IC设计中心陈新武
I
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目录
摘要 I
Abstract II
1序言
1.1背景及其意义 (1)
1.2国内外研究现状 (3)
1.3本文的主要内容 (5)
2集成电路可测试性设计的基本概念
2.1DFT的基本概念 (6)
2.2DFT的常用方法 (6)
2.3系统芯片与IP核 (10)
2.4自动测试设备（ATE）
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