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光纤耦合式全息-剪切双通道散斑干涉相位测量技术研究.docx

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光纤耦合式全息-剪切双通道散斑干涉相位测量技术研究

一、引言

在光子技术和现代材料的研究中，高精度的相位测量技术发挥着举足轻重的作用。近年来，光纤耦合式全息-剪切双通道散斑干涉相位测量技术作为一种新型的相位测量方法，在非接触、高精度测量领域引起了广泛的关注。本文旨在研究并探讨这种技术的原理、方法以及其应用，为进一步优化和提高该技术的性能提供理论依据。

二、光纤耦合式全息-剪切双通道散斑干涉原理

光纤耦合式全息-剪切双通道散斑干涉技术基于光的干涉原理和散斑效应。首先，通过光纤的耦合作用，将光束引入到全息-剪切双通道中。当两束光在干涉区域发生干涉时，形成散斑图样。这些散斑图样中包含了物体表面的高度

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