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纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分：使用时间相关单光子计数技术测定半导体量子点的荧光寿命标准化研究报告

EnglishTitle:StandardizationResearchReportonNanomanufacturing—KeyControlCharacteristicsofLuminescentNanomaterials—Part3:DeterminationofFluorescenceLifetimeofSemiconductorQuantumDotsUsingTime-CorrelatedSinglePhotonCountingTechnique

摘要

随着纳米科技的快速发展，半导体量子点作为一类重要的发光纳米材料，在显示技术、生物医学成像、现代农业及高端照明等领域的应用日益广泛。荧光寿命作为发光材料的关键性能参数，具有不受浓度、光漂白等因素干扰的独特优势，对材料性能评估与应用开发具有重要意义。时间相关单光子计数（TCSPC）技术以其高灵敏度、高精度和良好的重现性，成为测量荧光寿命的首选方法。本报告基于《纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分：使用时间相关单光子计数技术测定半导体量子点的荧光寿命》标准立项背景，系统分析了该标准的目的意义、适用范围及主要技术内容。报告指出，该标准的制定将填补国内在量子点荧光寿命检测领域的空白，推动产业技术规范化，提升我国在量子点领域的国际竞争力。研究还结合国内外技术现状，对标准实施后的行业影响进行了展望，强调了其在促进技术创新和产品质量提升方面的重要作用。

关键词：纳米制造；量子点；荧光寿命；时间相关单光子计数；标准化；关键控制特性；半导体纳米材料

Keywords:Nanomanufacturing;QuantumDots;FluorescenceLifetime;Time-CorrelatedSinglePhotonCounting;Standardization;KeyControlCharacteristics;SemiconductorNanomaterials

正文

1.标准制定的目的与意义

量子点产业近年来呈现快速增长态势，尤其在显示技术领域，量子点背光组件（如量子点光转换膜、含量子点扩散板等）已实现规模化应用。此外，量子点电致发光（QLED）、微米发光二极管（μ-LED）显示、生物医药标识与成像、现代农业以及高品质照明等新兴应用领域也在不断拓展，显示出广阔的市场前景。韩国三星等国际企业在该领域技术领先，而国内产业界正积极跟进，整体技术水平已接近国际先进水平，亟需通过标准化手段进一步提升产业竞争力。

荧光寿命作为发光材料的核心性能指标，具有独特的物理特性：其数值不依赖于荧光团浓度、样品吸收率、厚度、测量方法、荧光强度、光漂白效应及激发强度等变量，因而在复杂应用环境中表现出较高的稳定性和可靠性。同时，荧光寿命受温度、溶剂极性、荧光猝灭剂等外部环境因素影响，并对荧光团内部结构变化敏感，使其成为研究材料微观特性与宏观性能关联的重要参数。

时间相关单光子计数（TCSPC）技术是一种广泛应用于光子到达时间测量的高灵敏度方法，具有重现性好、精度高等特点，特别适用于对瞬态分辨率要求较高的测试场景，如荧光寿命光谱与成像、光子迁移及飞行时间测量等。该技术能够有效捕捉皮秒至纳秒量级的荧光衰减过程，为半导体量子点的性能表征提供了可靠的技术支撑。制定本标准旨在规范TCSPC技术在量子点荧光寿命检测中的应用，统一实验方法与数据处理流程，为产品质量控制和技术创新提供科学依据。

2.范围与主要技术内容

2.1范围

本标准规定了利用时间相关单光子计数技术（TCSPC）测量半导体量子点荧光寿命的方法，覆盖时间范围从皮秒至纳秒。本文件适用于稳定分散的量子点液体样品，明确排除了固体样品的检测，以确保方法在特定应用场景下的准确性与一致性。

2.2主要技术内容

标准的技术内容涵盖实验操作程序、数据处理方法及试验示例三大部分：

-实验操作程序：详细规定了样品制备、仪器校准、激发光源选择、探测条件设置等关键步骤，确保测量过程的可重复性与可比性。

-数据处理：包括荧光衰减曲线的拟合算法、寿命计算模型、误差分析与统计验证方法，强调数据的科学性与可靠性。

-试验示例：通过典型量子点样品的实测案例，演示标准方法的实际应用流程，为使用者提供直观的操作指南。

此外，标准还参考了国内外相关技术规范，如ISO/TS21346《纳米技术-纳米材料荧光寿命测量通则》，结合国内产业实际需求，对技术细节进行了优化与细化。

介绍修订的企事业单位或标委会

全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279）

作为本标准的主要