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电子元件失效分析员笔试试题电子元件失效分析员笔试试题
姓名__________________________________考试时间_________________分数__________________________________
一、单项选择题（每题2分，共2020分）
1.分析集成电路（分析集成电路（IC）内部短路失效时，优先使用（）进行无损检测。
A.红外热像仪B.原子力显微镜C.激光开封机D.X射线断层扫描仪
（X-CT）
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