透射电镜在材料分析中的应用.pptVIP

透射电镜在材料分析中的应用;透射电镜的一般知识

TEM工作原理

透射电镜的结构

电子衍射物相分析

电子显微衬度像

基本概念补充

应用举例

透射电镜样品制备;透射电镜的一般知识;什么是TEM?;TEM发展简史;TEM发展简史;例：质量m=50Kg的人，以v=15m/s的速度运动，试求人的德布罗意波波长。;电子的德波波长很短，用电子显微镜可放大200万倍。;;;近代TEM发展史上三个重要阶段;各国代表人物;为什么要用TEM?;高的图像分辨率。;获得立体丰富的信息。;不同结构表征手段对比;成像原理;两种工作模式;;透射电镜的结构;电子光学部分;照明系统;成像系统--物镜;成像系统--物镜光栏;成像系统--物镜光栏;明场像和暗场像;明场像和暗场像;暗场像;成像系统--中间镜;成像系统--投影镜;观察和记录系统;真空部分;电源与控制系统;电磁透镜的工作原理;运动电子在磁场中受到Lorentz力作用，其表达式为：???????????????????;电磁透镜的工作原理;电子衍射物相分析;电子衍射花样的形成;电子衍射的基本公式;各种结构的衍射花样;多晶材料的电子衍射;非晶态物质衍射;选区电子衍射;电子束的光路具有可逆回溯的特点。

如果在物镜的像平面处加入一个选区光阑，只有A’B’范围内的成像电子能通过选区光阑,并最终在荧光屏上形成衍射花样,这一部分花样实际上是由样品上AB区域提供的，所以在像平面上放置选区光阑的作用等同于在物平面上放置一个光阑。;衍射花样分析;多晶体结构分析;立方晶系中环的半径;简立方：N=1,2,3,4,5,6,8,9,10,11,12,13,14,161718

bcc:h+k+l=偶数，F?0,N=2,4,6,8,10,12,14,1618

fcc:hkl全奇数或全偶数F?0,N=3,4,8,11,1216;多晶衍射花样的标定;例如;单晶体结构分析;已知晶体结构，确定晶面取向;6)决定第二个斑点的指数。第二个斑点的指数不能任选，因为它和第一个斑点间的夹角必须符合夹角公式。对立方晶系来说，两者的夹角

7)决定了两个斑点，其它斑点可以根据矢量运算法则求得；

8)根据晶带定理，求晶带轴的指数，即零层倒易截面法线的方向。;例子;;未知结构的物相鉴定;具体操作时，应在几个不同的方位摄取电子衍射花样，保证能测出长度最小的八个R值。根据公式，将测得的距离换算成面间距d；查ASTM卡片和各d值都相符的物相即为待测的晶体。;标准花样对照法;复杂电子衍射花样;超点阵花样;所以，当H,K,L全奇全偶时，；

而当H,H,L有奇有偶时，

并不消光。;超点阵花样;高阶劳厄斑点;高阶劳厄带的特点;菊池衍射图;菊池线的产生机理;菊池线的几何特征;衬度定义

四种衬度

质厚衬度

衍射衬度

相位衬度

原子序数衬度;衬度(contrast)定义;四种衬度;质量~厚度衬度(Mass-thicknesscontrast)：由材料的质量厚度差异造成的透射束强度差异而产生的衬度(主要用于非晶材料)。

对于非晶样品,入射电子透过样品时碰到的原子数目越多(或样品越厚),样品原子核库仑电场越强(或原子序数或密度越大),被散射到物镜光阑外的电子就越多,而通过物镜光阑参与成像的电子强度就越低,即衬度与质量、厚度有关,故叫质厚衬度。;质厚衬度;质厚衬度的公式;衍射衬度(Diffractioncontrast)：由试样各部分满足布拉格条件的程度不同以及结构振幅不同而产生(主要用于晶体材料)。;晶粒A与入射束不成布拉格角，不产生衍射，透射束强度IA=I0；晶粒B与入射束满足布拉格衍射，衍射束强度为Ihkl，透射束强度IB=I0-Ihkl。如果让透射束通过物镜光阑，挡住衍射束，A晶粒比B晶粒亮(明场象)。如果让hkl衍射束通过物镜光阑，挡住透射束，B晶粒比A晶粒亮(暗场像);相位衬度(Phasecontrast)：试样内部各点对入射电子作用不同，导致它们在试样出口表面上相位不一，经放大让它们重新组合，使相位差转换成强度差而形成。

样品厚度＜100纳米时，衍射波振幅甚小，透射波振幅几乎与入射波相同。;衍射波与透射波的相位差为?／2。如果物镜没有象差，且处于正焦状态，光阑又足够大，合成波与入射波相位位置稍有不同，但振幅没变，没有衬度。

如果引入附加相位，使所严生的衍射波与透射波处于相等的或相反的相位位置，透射波与衍射波相干就会导致振幅增加或减少