2025年大学《分子科学与工程》专业题库—— 分子科学与工程中的电子显微镜技术.docxVIP

2025年大学《分子科学与工程》专业题库—— 分子科学与工程中的电子显微镜技术.docx

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多

2025年大学《分子科学与工程》专业题库——分子科学与工程中的电子显微镜技术

考试时间:______分钟总分:______分姓名:______

一、选择题(每小题2分,共30分。请将正确选项字母填在括号内)

1.限制电子显微镜分辨率的主要因素是()。

A.电子束的强度

B.电子的德布罗意波长

C.样品台的稳定性

D.放大镜的放大倍数

2.在透射电子显微镜中,获取样品衬度的主要物理过程是()。

A.电子与样品原子核的弹性散射

B.电子与样品原子核的非弹性散射

C.电子穿过样品时因吸收而损失的能量

D.二次电子的发射

3.下列哪种电子显微镜技术能够提供样品的原子级高分辨率形貌图像?()

A.扫描电子显微镜(SEM)

B.透射电子显微镜(TEM)

C.原子力显微镜(AFM)

D.扫描隧道显微镜(STM)

4.当电子束与晶体样品相互作用时,产生布拉格衍射的主要原因是()。

A.电子的波动性

B.样品表面吸附层的存在

C.电子的磁性质

D.样品的导电性

5.在电子能量损失谱(EELS)中,可以获得关于样品中()的信息。

A.晶体结构

B.元素组成

C.化学键合状态和电子能级结构

D.样品表面形貌

6.对于需要观察细胞内部精细结构的生物样品,通常需要使用()。

A.扫描电子显微镜(SEM)

B.透射电子显微镜(TEM)配合超薄切片

C.原子力显微镜(AFM)

D.扫描隧道显微镜(STM)

7.为了减少电子束对样品的辐射损伤,尤其是在观察热敏或轻元素样品时,常采用()。

A.使用高加速电压的电子束

B.使用低加速电压的电子束

C.增加样品厚度

D.使用环境扫描电子显微镜(ESEM)

8.在透射电子显微镜中,使用选区光阑(Slit)的主要目的是()。

A.减少背景噪声

B.提高分辨率

C.改变电子束的行进路径

D.增强样品的散射信号

9.将导电性差的样品(如聚合物、生物样品)放入SEM中进行观察,通常需要()。

A.自然干燥

B.喷涂导电层(如金、铂)

C.制成超薄切片

D.真空冷冻

10.下列哪种显微镜技术主要基于量子隧穿效应来获取样品信息?()

A.扫描电子显微镜(SEM)

B.透射电子显微镜(TEM)

C.扫描隧道显微镜(STM)

D.原子力显微镜(AFM)

11.电子显微镜通常需要在真空环境下工作,这是因为()。

A.电子在空气中运动速度最快

B.空气会吸收电子能量

C.空气分子会干扰电子与样品的相互作用

D.真空环境对仪器部件寿命更有利

12.电子衍射花样主要反映了样品的()。

A.表面形貌

B.元素组成

C.晶体结构信息

D.化学键合状态

13.为了获得生物样品的冷冻电镜结构,样品通常需要()。

A.快速冷冻在液氮中

B.喷涂碳膜

C.放置在导电胶带上

D.进行化学固定和脱水

14.透射电子显微镜(TEM)与扫描电子显微镜(SEM)相比,其主要优势在于()。

A.通常具有更高的分辨率

B.可以观察样品的整个表面形貌

C.对样品制备要求更低

D.可以获得样品的元素分布信息

15.当电子束照射到绝缘体样品表面时,主要发射的二次电子来自于()。

A.样品原子核

B.样品原子外层电子

C.电子束激发的样品表面离子

D.空气中的电子

二、填空题(每空1分,共20分。请将答案填在横线上)

1.电子显微镜的分辨率受制于电子的,其德布罗意波长λ与加速电压V的关系近似为。

2.在透射电子显微镜中,通过电子穿过薄样品时发生的作用,可以获得样品内部结构信息。

3.扫描电子显微镜(SEM)主要通过收集样品表面发射的信号来成像,可以获得样品表面的形貌信息。

4.原子力显微镜(AFM)通过检测探针与样品表面之间的作用力随扫描距离的变化,来获取样品表面的形貌信息。

5.电子衍射现象是电子具有的一种表现,可以利用衍射花样来分析样品的。

6.能量色散型X射线谱仪(EDS)可以用来分析样品的,它通过探测电子与样品原子核发生作用时损

您可能关注的文档

文档评论(0)

156****8581 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档