2025年大学《化学测量学与技术》专业题库—— X射线荧光分析技术在化学测量中的应用.docxVIP

2025年大学《化学测量学与技术》专业题库——X射线荧光分析技术在化学测量中的应用

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每小题2分，共20分。请将正确选项的字母填在题后的括号内）

1.在X射线荧光分析中，样品中原子吸收入射X射线后，最可能产生的次级辐射是？

A.康普顿散射光子

B.反射X射线

C.特征X射线

D.光电子

2.下列哪种X射线荧光分析技术主要利用不同元素的X射线荧光波长在不同单色器狭缝处的差异来进行分离和检测？

A.能量色散型XRF（EDXRF）

B.波长色散型XRF（WDXRF）

C.原子吸收光谱法

D.中子活化分析

3.当使用X射线荧光分析进行定量时，如果样品的化学组成与用于建立校准曲线的标准样品存在显著差异，通常需要采用哪种方法来减少系统误差？

A.提高仪器探测器的灵敏度

B.增加样品的测量时间

C.使用经验系数法校正基体效应

D.采用标准加入法或基本参数法进行基体效应校正

4.对于需要测量样品中痕量重金属元素（如Pb、Cd）的情况，通常更倾向于选择哪种类型的X射线荧光分析仪器？

A.紫外可见分光光度计

B.能量色散型XRF（EDXRF）

C.波长色散型XRF（WDXRF）配合高分辨率探测器

D.扫描型原子吸收光谱仪

5.在XRF分析中，将粉末样品混合均匀后压制成紧密的圆片，其主要目的是？

A.提高样品的熔点

B.增大样品的测量面积

C.减少样品的自吸收效应

D.增强X射线的反射

6.如果一个XRF仪器的能谱图上，某元素的Kα峰与其Lα峰发生重叠，会给定量分析带来什么主要困难？

A.仪器稳定性下降

B.探测器效率降低

C.峰形变得不对称

D.难以准确分离和积分重叠峰，导致定量结果不准确

7.在地质样品的XRF分析中，为什么通常需要进行基体效应校正？

A.地质样品成分通常非常均匀

B.基体元素对分析元素的吸收和增强效应显著

C.地质样品中元素含量都很低

D.XRF仪器的稳定性较差

8.与压片法相比，使用熔融法制备XRF分析样品的主要优点之一是？

A.样品制备成本更低

B.可以分析多孔样品

C.能有效消除或减弱基体效应

D.操作过程更为简单快捷

9.X射线荧光分析技术最重要的特点之一是？

A.必须在真空条件下进行

B.可以对固体、液体甚至粉末样品进行无损或微损分析

C.只能测量金属元素

D.对痕量元素的检测限很高

10.在环境监测中，用于测定水体或土壤样品中重金属元素含量时，XRF技术的主要优势体现在？

A.可以直接测定溶解态浓度

B.分析速度快，样品前处理简单

C.可以同时测定多种元素

D.不需要使用任何化学试剂

二、填空题（每空2分，共20分。请将正确答案填在横线上）

1.X射线荧光分析是基于原子外层电子从较高能级跃迁到较低能级时释放出的__________辐射进行元素分析的技术。

2.波长色散型XRF（WDXRF）通常使用__________作为色散元件来分离不同波长的X射线荧光。

3.XRF分析中，样品自吸收效应通常随样品中待测元素原子序数的增加和样品厚度的增加而__________。

4.为了减少XRF分析的随机误差，提高结果的精密度，通常需要对每个样品进行__________次测量，并计算平均值。

5.在XRF定量分析中，基本参数法（FundamentalParameter,FP）校正基体效应是基于__________和__________对荧光产额的综合影响进行计算。

6.对于成分复杂或易挥发元素的样品，为了提高分析的准确度，常采用__________法进行样品制备。

7.XRF技术可以测量元素周期表中从__________（填元素符号）到__________（填元素符号）的大约70种元素。

8.能量色散型XRF（EDXRF）是利用__________探测器同时接收样品产生的具有不同能量的X射线荧光，并通过能谱进行元素分析。

9.在地质学研究中，XRF技术常被用于测定岩石、矿物和土壤的__________和__________。

10.XRF分析中，选择合适的__________和__________是确保分析