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第四章医用诊断X射线机常用质量检测设备
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准铝过滤板，半价层测量支架如图4-69所示。
一般的测量方法是用一个连接在静电计组件上的外部探头。采用MPD和内置的半价层(HVL)应用程序测量并计算校正后的半价层值和总滤过值。
测量半价层应按照图4-70所示连接设备并摆位。选择MPD进行测量，测量方法与测量管电压基本一致，不同之处是选择内置半价层(HVL)应用程序。
图4-69半价层测量支架
图4-70测量半价层摆位
按照应用程序上的指令，根据设置值，测量过程中通过添加铝片的方式逐步增加射线束的过滤。
当剂量值减弱超过一半时，半价层应用程序将自动计算出半价
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