《GB_T 5095.2509-2020电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰》专题研究报告.pptx

《GB/T5095.2509-2020电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰》专题研究报告

目录02040608100103050709电子设备机电元件外来串扰有哪些典型表现?结合试验25i标准看不同场景下串扰特征及对设备性能的潜在影响开展试验25i需配备哪些专用设备与工具?按标准要求梳理设备技术指标、校准规范及选型要点以确保试验准确性如何判断试验25i的结果是否合格?依据GB/T5095.2509-2020明确判定准则,分析合格与不合格结果的处理方式及应用建议未来3-5年电子设备向高频高速发展,试