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2025年大学《电子封装技术-先进封装技术》考试参考题库及答案解析

单位所属部门:________姓名:________考场号:________考生号:________

一、选择题

1.先进封装技术中,三维堆叠技术的主要优势是()

A.增加封装高度,但不影响性能

B.提高互连密度,缩短信号传输距离

C.降低封装成本,提高散热效率

D.增加封装层数,简化生产工艺

答案:B

解析:三维堆叠技术通过垂直方向上的层叠结构,显著提高了互连密度,缩短了芯片之间的信号传输距离,从而提升了器件的运行速度和能效。虽然能增加封装高度,但其主要优势在于性能提升,而非成本或散热。增加封装层数虽然可能,但并非其核心优势,且复杂的生产工艺是其挑战之一。

2.在系统级封装(SiP)中,多芯片集成的主要目的是()

A.提高单个芯片的制造精度

B.降低整体封装的尺寸和成本

C.增加封装材料的使用量

D.简化芯片的设计流程

答案:B

解析:系统级封装(SiP)通过将多个不同功能的芯片集成在一个封装体内,实现了小型化、轻量化和成本优化,是现代电子封装技术的重要发展方向。其核心目的在于通过集成提升系统性能,同时降低整体封装的尺寸和成本。提高单个芯片精度、增加材料使用量或简化设计流程并非其直接目标。

3.基于硅通孔(TSV)的先进封装技术,其关键制造工艺是()

A.光刻和蚀刻

B.锡焊和回流焊

C.TSV钻孔和填充

D.块材切割和研磨

答案:C

解析:硅通孔(TSV)技术是三维集成电路封装的核心,其关键在于通过特种加工技术在硅片中垂直钻通孔,并进行电学填充以实现垂直互连。光刻和蚀刻是半导体制造的基础工艺,锡焊和回流焊是封装后的连接工艺,块材切割和研磨是晶圆制备过程的一部分,但TSV技术的独特性和核心在于钻孔与填充。

4.异构集成技术相较于传统封装技术的显著区别是()

A.使用更小的封装基板

B.在同一封装内集成不同工艺节点的芯片

C.减少封装层数

D.提高芯片的功率密度

答案:B

解析:异构集成技术允许在同一封装内集成采用不同制造工艺(如CMOS、SiGe、MEMS等)的多个芯片,实现功能互补和性能优化,这是其与传统封装技术(通常集成同类型芯片)最显著的区别。使用更小的基板、减少层数或提高功率密度可能是其结果或特点,但非本质区别。

5.先进封装技术中,扇出型晶圆级封装(Fan-OutWaferLevelPackage,FOWLP)的主要特点包括()

A.在晶圆上直接形成焊球阵列

B.封装尺寸大于芯片尺寸

C.采用了嵌入式无源器件技术

D.垂直互连结构为主

答案:A

解析:扇出型晶圆级封装(FOWLP)的核心特点是在晶圆制造阶段就形成芯片之外的扇出型引线结构,并在晶圆上直接制作焊球阵列(CSP形式),从而实现更小的封装尺寸和更高的引脚密度。封装尺寸小于芯片尺寸是其直接结果,嵌入式无源器件是可选技术,垂直互连不是其主导结构。

6.在先进封装测试中,针测(Bed-of-Nails,BON)主要适用于()

A.高密度互连的封装

B.需要高精度温度控制的测试

C.多芯片集成封装的初步筛选

D.需要频繁拆装的封装

答案:C

解析:针测(BON)是一种基础的测试方法,通过一个带有多个针脚的测试板与封装焊盘接触进行电气测试。它结构简单、成本相对较低,适合用于多芯片集成封装等复杂封装的初步功能筛选和缺陷检测。对于高密度互连可能存在接触精度问题,对于高精度温控和频繁拆装不适用。

7.嵌入式无源器件(EmbeddedPassiveComponents,EPC)在先进封装中的主要作用是()

A.提高封装的机械强度

B.减少封装后的无源器件占位面积

C.简化封装后的电路板设计

D.增加封装的散热面积

答案:B

解析:嵌入式无源器件技术将无源元件(如电阻、电容)在芯片制造或封装基板制造过程中集成到有源器件之间,其主要作用是显著减少封装后电路板上的无源器件占位面积,从而提高空间利用率和系统集成度。它不直接提高机械强度、简化电路板设计或增加散热面积,尽管可能间接影响这些方面。

8.先进封装中,硅通孔(TSV)的填充材料通常要求()

A.电阻率极高

B.热膨胀系数与硅接近

C.透光率极高

D.机械强度极低

答案:B

解析:硅通孔(TSV)的填充材料需要具有良好的电学绝缘性(电阻率高)和与硅相近的热膨胀系数(CTE匹配),以避免应力导致开路或短路,并保证长期可靠性。透光率与TSV功能无关,机械强度需要适中以保证填充完整性。

9.在系统级封装(SiP)设计中,电源管理芯片(PMIC)的布局通常考虑()

A.尽量靠近芯片封装的边缘

B.放置在封装中心位置

C.与热源芯片保持较远距离

D.优先考虑美观

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