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《芯片测试与安全》课件 第3章 测试与故障仿真.pdf

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    第3章

    测试与故障仿真

    组合ATPG

    •随机测试生成（RTG）

    •随机为每个初级输入（PI）赋值0或1。

    •若电路中存在难以被随机向量激活或传播，则效率极低。

    •穷举测试

    •枚举所有2^N种可能的测试向量（N为输入数）。

    •对于大型电路，计算量和测试时间呈指数增长，效率极低。

    D算法

    5-值代数：

    •logic1

    •logic0

    •

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