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《芯片测试与安全》课件 第9章 人工智能时代的数字芯片测试与安全.pdf

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    第九章

    人工智能时代的数字芯片测试与安全

    9.1机器学习助力芯片测试与诊断

    •经过多年的研究与开发，机器学习在芯片诊断领域的应用已趋于

    成熟

    •特别是在显著提升芯片良率和诊断质量（分辨率与准确性）方面

    识别缺陷类型

    分类

    功能测试特征提取判断

    实际失效芯片测试数据特征

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