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《芯片测试与安全》课程教学大纲.pdf

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    《芯片测试与安全》课程教学大纲

    一、课程基本信息

    （1）课程名称（中英文）

    中文名称：芯片测试与安全

    英文名称：IntroductiontoChipSecurityandTestMethods

    （2）学时与学分

    总学时：40学时(建议32理论学时+8实验学时)

    学分：2.5

    （3）先修课程课程

    《C语言与数据结构》、《数字电路与逻辑设计》、《线性代数》

    (4)适用学科专业

    网络空间安全，集成电

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