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《芯片测试与安全》课件 第4章 可测试性设计(DFT).pdf

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    第4章

    可测试性设计(DFT)

    扫描

    •扫描（Scan）是最广泛使用的DFT技术。

    •扫描将全部或大部分存储单元转换为扫描单元：

    Ø在测试模式下可被控制和观测；

    Ø在正常模式下功能透明，不影响电路原有行为。

    •扫描单元相互连接，构成移位寄存器，也称为扫描链。

    扫描单元

    muxed-DscancellclockedscanFF

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