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Micro-Wave Scan 桔皮仪 3 dual 说明书.pdf

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    桔皮仪3dual

    应用于高-中光泽表面上的桔皮和鲜映性

    测量

    在不同距离观察时，表面外观会随波纹结构的尺寸和清晰程度

    而发生改变。桔皮仪使用激光光源扫描高光泽表面的光学轮

    廓.，将光学轮廓从0.1到30mm划分成5个波长范围(Wa-

    We)进行分析。此外,通过相机聚焦在反射影像上获取的图

    像，来评估0.1mm(du)结构导致的表面成像质量。因此，它

    能模拟我们近距离(~30cm)和远距离(~2-3m)的目视外观感

    受。以“结构谱线”为结果，以此计算出桔皮和DOI等客户

    特定的标尺。

    与大众/奥迪共同开发的利用快速傅里叶转换(FFT)对光学轮廓

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