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电子行业半导体封装工艺师岗位招聘考试试卷及答案
一、填空题
1.半导体封装的主要目的是保护芯片、实现电气连接和()。
答案:散热
2.引线键合中最常用的两种材料是金丝和()。
答案:铜线
3.倒装焊技术中,芯片与基板的连接通过()实现。
答案:焊球
4.塑封工艺中常用的材料是()。
答案:环氧树脂
5.晶圆减薄的主要目的是减少芯片厚度和提高()。
答案:散热性能
6.封装工艺流程中,芯片贴装到基板上的工序称为()。
答案:DieAttach(或芯片贴装)
7.键合强度测试常用的方法有()和剪切测试。
答案:拉力测试
8.BGA封装的中文名称是()。
答案:球栅阵列封装
9.半导体封装中,防止湿气进入的关键工艺是()。
答案:密封(或封盖/塑封)
10.影响键合质量的三个关键参数是温度、压力和()。
答案:超声功率(或键合时间)
二、单项选择题
1.下列哪种封装形式不属于表面贴装技术(SMT)封装?()
A.SOPB.DIPC.QFPD.BGA
答案:B
2.塑封工艺中,下列哪项不是其主要作用?()
A.机械保护B.电气绝缘C.增强散热D.形成引脚
答案:D
3.金丝键合通常适用于哪种封装场景?()
A.大电流器件B.高精度、细间距C.低成本要求D.高可靠性军工产品
答案:B
4.芯片减薄过程中不会使用到的设备是()。
A.砂轮切割机B.化学蚀刻机C.CMP抛光机D.键合机
答案:D
5.下列哪种缺陷不属于键合工艺常见缺陷?()
A.虚焊B.桥连C.焊球偏移D.分层
答案:C
6.倒装焊相比传统引线键合的最大优势是()。
A.成本更低B.工艺更简单C.引脚间距更小D.可靠性更低
答案:C
7.塑封料的流动性指标通常用()表示。
A.粘度B.熔点C.玻璃化转变温度(Tg)D.热膨胀系数(CTE)
答案:A
8.下列哪种封装技术可以实现多芯片集成?()
A.DIPB.SiPC.TOD.QFN
答案:B
9.晶圆划片工艺中,下列哪种方法切割精度最高?()
A.刀片切割B.激光切割C.水射流切割D.等离子切割
答案:B
10.封装后测试(FinalTest)不包括下列哪项内容?()
A.电学性能测试B.外观检查C.键合强度测试D.晶圆级可靠性测试
答案:D
三、多项选择题
1.影响半导体封装可靠性的主要环境因素包括()。
A.温度B.湿度C.振动D.电磁干扰
答案:ABCD
2.引线键合工艺中,键合点质量的评估指标有()。
A.键合强度B.键合面积C.颈部粗细D.金球直径
答案:ABC
3.倒装焊工艺的关键技术包括()。
A.焊球制备B.助焊剂涂覆C.对准技术D.回流焊
答案:ABCD
4.塑封工艺的主要工艺参数包括()。
A.温度B.压力C.时间D.模具温度
答案:ABCD
5.半导体封装中常用的基板材料有()。
A.陶瓷B.有机laminateC.硅D.金属
答案:AB
6.下列属于晶圆级封装(WLP)特点的是()。
A.封装尺寸接近芯片尺寸B.在晶圆上完成大部分封装工序
C.成本较高D.适合高密度I/O
答案:ABD
7.芯片贴装(DieAttach)工艺中常用的粘结材料有()。
A.银胶B.焊锡膏C.环氧树脂D.硅橡胶
答案:ABC
8.封装工艺中常见的无损检测方法有()。
A.X射线检测B.超声检测C.红外热像仪D.拉力测试
答案:ABC
9.半导体封装的发展趋势包括()。
A.小型化B.薄型化C.高集成度D.低成本化
答案:ABCD
10.导致塑封体分层的可能原因有()。
A.塑封料与芯片粘附性差B.固化不完全C.内部应力过大D.湿气侵入
答案:ABCD
四、判断题
1.半导体封装的主要作用是实现芯片与外部电路的电气连接。()
答案:√
2.铜线键合相比金丝键合具有更高的电导率和更低的成本。()
答案:√
3.倒装焊芯片的I/O焊盘位于芯片的正面。()
答案:×
4.塑封过程中,模具温度越高,塑封料流动性越好,因此温度越高越好。()
答案:×
5.晶圆划片是将晶圆分割成单个芯片(Die)的工艺。()
答案:√
6.BGA封装的焊点间距比QFP封装更小。()
答案:√
7.芯片减薄后的厚度越薄,芯片的机械强度越高。()
答案:×
8.键合强度测试中,拉力值越大,键合质量一定越好。()
答案:×
9.SiP封装是将多个芯片集成在一个封装内的技术。()
答案:√
10.封装后的芯片不需要进行可靠性测试。()
答案:×
五、简答题
1.简述引线键合工艺的基本流程。
答案:引线键合工艺基本流程:首先对芯片焊盘和基板焊区进行清洁处理;然后将金丝(或铜线)穿过瓷嘴,在超声、温度和压力作用下,在芯片焊盘上形成第一键合点(球焊或楔焊);接着瓷嘴带着金线移动到基板焊区,形成第二键合点;最后切断金线,完成一个键合循环。该工艺通过金属引线实现芯片与
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